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中國環(huán)境試驗標準列表

日期:2024-12-16 02:02
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摘要:
 
  準 編 號
         
GB10586-89
濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB10587-89
鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB10588-89
長霉試驗箱技術(shù)條件
GB10589-89
低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10590-89
低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10591-89
高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10592-89
高、低溫試驗箱技術(shù)條件
GB11158-89
高溫試驗箱技術(shù)條件
GB11159-89
低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.1-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   總則
GB/T5170.2-1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170.8-1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   鹽霧試驗設(shè)備
GB/T5170.9-1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T5170.10-1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T5170.11-1996
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法    腐蝕氣體試驗設(shè)備
GB5170.13-85
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法    振動(正弦)試驗用機械振動臺
GB5170.14-85
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   振動(正弦)試驗用電動振動臺
GB5170.15-85
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   振 動(正弦)試驗用液壓振動臺
GB5170.16-85
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   恒加速度試驗用離心式試驗機
GB5170.17-87
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB5170.18-87
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB5170.19-89
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   溫度/振動(正弦)綜合試驗設(shè)備
GB5170.20-90
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   水試驗設(shè)備
GB2421-89
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則
GB/T2422-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗   術(shù)語
GB2423.1-89
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB/T2423.3-93
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.4-93
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法
GB/T2423.5-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗   第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊
GB/T2423.6-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗   第3部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞
GB/T2423.7-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗   第4部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒
 
(主要用于設(shè)備樣品)
GB/T2423.8-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗   第5部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
GB2423.9-89
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法
GB/T2423.10-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導則:振動(正弦)
GB/T2423.11-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法以 試驗Fd:寬頻帶隨機振動—一般要求
GB/T2423.12-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda:寬頻帶隨機振動—高再現(xiàn)性
GB/T2423.13-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振動—中再現(xiàn)性
GB/T2423.14-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdc:寬頻帶隨機振動—低再現(xiàn)性
GB/T2423.15-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導則:穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T2423.16-1999
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導則:長霉
GB/T2423.17-93
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法
GB2423.18-2000
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb:交變鹽霧試驗方法(氯化鈉溶液)
GB2423.19-81
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
GB2423.20-81
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法
GB2423.21-91
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法
GB2423.22-87
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB/T2423.23-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封
GB/T2423.24-1995
電工電了產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Sa:模似地面上的太陽輻射
GB/T2423.25-92
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T2423.26-92
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
GB2423.27-81
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
GB2423.28-82
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T:錫焊試驗方法
GB2423.29-1999
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度
GB2423.30-1999
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第3部分:試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬
GB2423.31-85
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法
GB2423.32-85
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法
GB2423.33-89
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
GB2423.34-86
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法
GB2423.35-86
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動
 
(正弦)綜合試驗方法
GB2423.36-86
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)
 
綜合試驗方法
GB2423.37-89
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗L:砂塵試驗方法
GB2423.38-90
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R:水試驗方法
GB2423.39-90
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee:彈跳試驗方法
GB/T2423.40-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx::未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T2423.41-94
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風壓試驗方法
GB/T2423.42-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法
GB/T2423.43-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea)、
 
 碰撞(Eb)、  振動(Ec和Fd)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動力學試驗中的安裝要求和導則
GB/T2423.44-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘
GB/T2423.45-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序
GB/T2423.46-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ef:撞擊 擺錘
GB/T2423.47-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振
GB/T2423.48-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ff:振動—時間歷程法
GB/T2423.49-1997
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動—正弦拍頻法
GB2424.1-89
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則
GB/T2424.2-93
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導則
GB2424.9-90
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 長霉試驗導則
GB/T2424.10-93
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 大氣腐蝕加速試驗的通用導則
GB2424.11-82
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的二氧化硫試驗導則
GB2424.12-82
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導則
GB2424.13-81
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導則
GB/T2424.14-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 太陽輻射試驗導則
GB/T2424.15-92
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗導則
GB/T2424.17-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 錫焊試驗導則
GB2424.18-82
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 在清洗劑中浸漬試驗導則
GB2424.19-84
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 模 擬貯存影響的環(huán)境試驗導則
GB2424.20-85
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗導則
GB2424.21-85
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗導則
GB2424.22-86
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度(低溫、高溫)和振動(正弦)綜合試驗導則
GB2424.23-90
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 水試驗導則
GB/T2424.24-1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導則
GB10593.1-89
電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動
GB10593.2-90
電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 鹽霧
GB10593.3-90
電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測量方法 振動數(shù)據(jù)處理和歸納
GB11804-89
電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語
GB4796-84
電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴酷程度分級
GB4797.1-84
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       溫度和濕度
GB4797.2-86
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       海拔與氣壓、水深與水壓
GB4797.3-86
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       生物
GB4797.4-89
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       太陽福射與溫度
GB/T4797.5-92
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       降水和風
GB/T4797.6-1995
電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件       塵、沙、鹽霧
GB4798.1-86
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       貯存
GB/T4798.2-1996
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       運輸
GB4798.3-90
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       有氣候防護場所固定使用
GB4798.4-90
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       無氣候防護場所固定使用
GB4798.5-87
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       地面車輛使用
GB/T4798.6-1996
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       船用
GB4798.7-87
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       攜帶和非固定使用
GB/T4798.9-1997
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       產(chǎn)品內(nèi)部的微氣候
GB/T4798.10-91
電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件       導言
GB/T13952-92
移動式平臺及海上設(shè)施用電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件參數(shù)分級
GB/T16422.1/1996
塑料實驗室光源曝露試驗方法     **部分    通則
GB/T2951.1~2951.10-1997
電纜絕緣和護套料通用試驗方法
GB/T14597-93
電工產(chǎn)品不同海拔的氣候環(huán)境條件
GB11606.1~11606.17-89
分析儀器環(huán)境試驗方法
GB12085.1~12085.14-89
光學和光學儀器   環(huán)境試驗方法
GB6999-86
環(huán)境試驗用相對濕度查算表
GB/T6031-1998
硫化橡膠或熱塑性橡膠硬度的測定
GB/T17782-1999
硫化橡膠壓力空氣熱老化試驗方法
GB9868-88
橡膠獲得高于或低于常溫試驗溫度通則
GB/T12831-91
硫化橡膠人工氣候(氙燈)老化試驗方法
GB/T12584-90
橡膠或塑料涂覆織物低溫沖擊試驗
GB/T14710-93
醫(yī)用電氣設(shè)備環(huán)境要求及試驗方法
GB14048.3-93
低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備低壓開關(guān) 隔離器   隔離開關(guān)及熔斷器組合器
GB8747-87
氣象用玻璃液體溫度表
GB/T7020-86
中空玻璃測試方法
GB3100~3102-93
量和單位
GB3836.1-2000
爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備   第1部分:通用要求
GB3836.2-2000
爆作性氣體環(huán)境用電設(shè)備   第2部分:隔爆型"d'
GB11605-89
濕度測量方法
GB/T4857.7-92
包裝、運輸包裝件 正弦頻振動試驗方法
GB/T4857.9-92
包裝、運輸包裝件噴淋試驗方法
GB/T4857.3-92
包裝運輸包裝件靜載荷堆碼試驗方法
GB/T5398-1999
大型運輸包裝件試驗方法
GB/T4857.5~4857.6-92
包裝、運輸包裝件   跌落試驗方法    滾動試驗方法
GB/T4857.2-92
包裝、運輸包裝件溫濕度調(diào)節(jié)處理
GB/T19000.2-1994
質(zhì)量管理和保證標準 **部分:GB/T19001,19002,19003
GB/T19004.2-1994
質(zhì)量管理和質(zhì)量體系表 第2部分:服務(wù)指南
GB/T19003-1994
質(zhì)量體系:終檢驗和試驗的質(zhì)量保證模式
GB/T19004.3
第三部分:流程性材料指南
GB/T19004.4-1994
質(zhì)量管理和質(zhì)量體系要素 第四部分:質(zhì)量改進指南
GB/T15497-1995
企業(yè)標準體系 技術(shù)標準體系的構(gòu)成和要求
GB/T15498-1995
企業(yè)標準體系 管理標準工作標準體系的構(gòu)成和要求
GB/T1.1-2000
標準化工作導則   第1部分:標準的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則
GB/T13017-1995
企業(yè)標準表編制指南
GB/T13264-91
不合格品率的小批計數(shù)抽樣檢查程序及抽樣表
 
 
 
 
JB2678-80
電工產(chǎn)品高原使用環(huán)境條件
JB2853-80
電工產(chǎn)品、儀器儀表基本環(huán)境條件
JB3157-82
電工產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分級(氣候與化學環(huán)境因素部分)
JB4160-85
電工產(chǎn)品的熱帶自然環(huán)境條件
JB4375-86
電工產(chǎn)品戶外、戶內(nèi)腐蝕場所使用環(huán)境條件
JB/T5520-91
干燥箱技術(shù)條件
JB/T5377-91
恒 溫水槽 技術(shù)條件
JB/T6862-93
溫濕度計
JB/T5376-91
低溫恒溫槽技術(shù)條件
JB/T6823-93
生物人工氣候箱技術(shù)條件
JB/T5219-91
工業(yè)熱電偶型式基本參數(shù)及尺寸
JB/T5405-91
薄膜鍵盤技術(shù)條件
JB/T5451-91
微動開關(guān)通用技術(shù)條件
JB/T5582-91
鎧裝熱電偶
JB/T5583-91
工業(yè)熱阻型式基本參數(shù)及尺寸
JB/T6170-92
壓力傳感器通用技術(shù)條件
JB/T6174-92
儀器儀表功能電路板老化工藝規(guī)范
JB/T6239.1~.5-92
工業(yè)自動化儀表通用試驗方法
JB1012-91
YY系列單相異步電動機技術(shù)條件
JB/T8514.1~8514.3-1997
企業(yè)標準化工作導則
 
 
 
 
GJB150.1-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法     總則
GJB150.2-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法     低氣壓(高度)試驗
GJB150.3-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法     高溫試驗
GJB150.4-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法     低溫試驗
GJB150.5-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      溫度沖擊試驗
GJB150.6-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      溫度—高度試驗
GJB150.7-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      太陽輻射試驗
GJB150.8-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      淋雨試驗
GJB150.9-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      濕熱試驗
GJB150.10-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法     霉菌試驗
GJB150.11-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      鹽霧試驗
GJB150.12-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      砂塵試驗
GJB150.13-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法     爆炸性大氣試驗
GJB150.14-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      浸漬試驗
GJB150.15-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法       加速度試驗
GJB150.16-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法       振動試驗
GJB150.17-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法     噪聲試驗
GJB150.18-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法     沖擊試驗
GJB150.19-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      溫度—濕度—高度試驗
GJB150.20-86
**設(shè)備環(huán)境試驗方法      飛機炮振試驗
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半導體與立器件試驗方法
GJB33A-97
半導體分立器件     總規(guī)范
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GJB150.21~150.22-87
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